金融界2024年12月4日消息，国家知识产权局信息显示，武汉宇恩防伪技术有限公司申请一项名为“一种防伪膜用表面缺陷检测装置”的专利，公开号CN 119064446 A，申请日期为2024年8月。
专利摘要显示，本申请涉及防伪膜缺陷检测技术领域，具体公开了一种防伪膜用表面缺陷检测装置，其包括机架和设置在机架上的频闪灯，机架上设置有监控器和用于控制频闪灯变频的控制器，机架上还固接有指向膜卷的固定筒，固定筒上穿设有抵紧杆，抵紧杆靠近膜卷的一端固接有固定块，抵紧杆于固定块和固定筒间套设有第一弹簧，且第一弹簧始终处于压缩状态，固定块靠近膜卷的一端转动连接有与膜卷相抵紧的滚轮；抵紧杆远离滚轮的一端设置有推拉杆，机架上固接有滑动变阻器，推拉杆与滑动变阻器的滑片端相连，滑动变阻器的滑片电连接有外接电源，滑动变阻器的其中一个接线柱与控制器电连接。本申请具有保持频闪灯的频率始终与防伪标速度相匹配的效果。
来源：金融界